the cmx dl 无损测量超声波测厚仪主要特点:
测量方式(仅测量基体厚度、同时测量基体和涂层的厚度、仅测量涂层厚度)
显示模式(数字式显示、b扫描显示、a扫描显示<仅cmx>)
增益可调节:超低、低、中、高、超高
增益值可到110db
自动增益控制(agc)
时间增益校正(tcg)
探头自动识别,自动调零和温度补偿
最大值、最小值显示
可存储64个用户参数设置
高速扫查(50次/秒)
高达140hz的脉冲重复频率
b扫描显示用于显示被测材料的截面形状
a扫描波形显示和rf显示(cmx dl )
差值测量模式
高速扫查功能可用于快速找到壁厚的最小值
上/下限声光报警功能
数据存贮:可存储21000个测量厚度值或者16000个测量厚度值和b扫描图形及参数
可通过软件与计算机进行数据交换,方便用户打印检测报告
the cmx dl 无损测量超声波测厚仪参数:
界面波-底波(p-e)方式:0.63-508mm
带自动温度补偿的界面波-底波(petp)方式: 0.63-508mm
多层测量(pect)方式:0.63-508mm(基体) 0.01-2.54mm(表面涂层)
穿透涂层测量(e-e)模式:2.54—102mm(因涂层的不同会有所变化)
仅测量涂层(ct)模式:0.0127——2.54mm(因涂层的不同会有所变化)