1、操作简单且性价比高。
2、自下而上进行测量,从而快速、简便地定位样品。
3、广泛适用:为各个行业的典型需求量身定制了多种型号。
4、以非破坏性方式进行镀层厚度测量与元素分析。
5、带有高性能 x 射线管和高灵敏度的硅漂移探测器 (sdd)的机型,可对极薄镀层及微量成分进行精确测量。
1、厚度仅为几纳米的贵金属镀层。
2、时尚首饰:对代镍镀层等新工艺多镀层系统进行分析。
3、磨损镀层,如:对化学镍镀层的厚度及磷含量进行测量。
4、测试纳米级基础金属化层(凸点下金属化层,ubm)。
1、测定黄金首饰等贵金属、手表和硬币的成分与纯度。
2、专业实验室、检测机构以及科研院校中常规材料分析。
3、依据 rohs、weee、cpsia 以及其他准则,检测电子元件、包装以及消费品中不。合要求的物质(例如重金属)。
4、功能性镀层的成分,如测定化学镍中的磷含量。