1hcc-24 磁阻法测厚仪
1 概述
hcc-24 磁阻法测厚仪是一种用电池供电的便携式测量仪器，可快速无损地测量导磁材料表面上非导磁覆盖层厚度。例如：铁和钢上的铜、锌、镉、铬镀层和油漆层等。由于集成电路和微处理器的应用，使本仪器具有操作简单、使用方便、稳定性好、测量精度高的优点。仪器具有数理统计功能，可直接显示测量次数、平均值、zui大值及zui小值。 本仪器采用电磁感应原理进行测量，符合标准iso2178和国家标准gb/t4956。当探头与覆盖层接触时，探头和磁性基体构成一闭合磁回路，由于非磁性覆盖层存在，使磁路磁阻增加，磁阻的大小正比于覆盖层的厚度。通过对磁阻的测量，经电脑进行分析处理，由液晶显示器直接显示出测量值。
2 技术参数
1）测量范围：0μm～1200μm。
2）示值误差：±((1~3)%h 1μm）h为被测涂层厚度。
3）分辨率：1μm。
4）zui小测量面的直径：φ10 mm。
5）显示：4位lcd显示测量的次数、平均值、zui大值、zui小值，同时指示仪器的工作状态及电池使用情况。
6）电源：一节6f22型9v电池。
7）外形尺寸：160 mm×80 mm×30 mm。
8）质量：约250g。
9）使用环境：温度0℃～40℃；相对湿度不大于90%。
3仪器外型
4 按键说明
1）“开/关”：仪器的开关键。
2）“统计res”：数理统计键，对测量结果进行理统计，并顺序显示下述数据，即测量的次数（n）、平均值（mean）、zui大值（max）、zui小值（min）。
3）“清除del”：从统计中消除当前测量值的键。
4）“校正cal”：用于校正仪器的键。
5）“︿”：处在校正方式时，递增显示数值的键；在正常测试时，用于普通模式与连续测量模式转换。
6）“﹀”：处在校正方式时，递减显示数值的键；在正常测试时，用于普通模式与连续测量模式转换。
5 仪器的基本使用方法
用本仪器进行测试使用起来非常简单：首先用螺丝刀撬开仪器背面的电池盒盖，装入电池。然后按“开/关”键开机，仪器显示“- - -”，2秒钟后显示“0μm”，仪器便进入测量状态。此时，用户只要将仪器的探头垂直压在被测面上（如图1）。注意，探头按下时，探头的尾部会抬起，手不要碰到探头的金属部分，以免影响保持探头内体自由上下活动。保持探头放置稳定，仪器显示器上会出现一个。
为了保证仪器正常工作并获得*工作状态，请注意以下2个使用细节：
1. 在仪器开机时，使探头远离被测件和其它铁磁性物体（10cm以上），直到仪器显示“0μm”为止。
2. 每次测试后，尽量上提探头，使其远离被测件，这样会使仪器处于良好的环境适应状态。
83）单点校正法
有时候，受条件限制，譬如被测体是个凹面，无法使用很难弯曲的厚试片进行校正；或者用户接触到的涂层厚度局限在一个相对较小的范围内。此时，只能或只需要用一个校正点。这个校正点可以是裸基体（零点），也可以是某个任意涂层厚度的样品。如果用户的接触到的被测件涂层厚度在某个较小范围内，如100μm左右，那么这个校正点选100μm是zui合适的。校正点定好以后就可以开始校正了，只有如下一个步骤：在仪器开机后的状态下，按一下“校正cal”键，用“︿”或“﹀”键调整仪器显示的厚度值，使其为“0”或与样品的厚度值一致。然后，将探头直接放在裸基体上进行测试。如果是样品，那么直接测试该样品。可以重复测几次，待仪器显示的测试值稳定后，按两下“校正cal”键（后一次按键使仪器退出校正过程），单点校正便完成了。同样，如果以后还要做同样的单点校正，借助仪器已经记住的校正点厚度值，能进一步让用户省去上面步骤中调整厚度的那部分操作，使用将更加便捷。相对于上面的几种方法，本校正法的操作zui简单。但代价是仪器的测试精度在远离校正点处可能会有所降低。用户可以不妨试用一下本校正法，以便判断它能否满足实际的测试要求。
4）任意多个校正点校正法如果用户接触到的被测物件形状比较特殊，而且涂层9厚度的范围也比较大，同时精度又有更高的要求，那么用户可以自行挑选多个校正点（zui多10个）进行校正，仪器允许的校正点厚度为0 ～ 1999μm。有一点请注意，在实际进行校正的过程中，多个厚度执行顺序必须由小到大依次进行。具体的操作步骤和上面的传统校正法类似，此处就不再重复了。7 仪器的其它操作说明1）通过多次测量后，按“统计res”键可依次显示出测量次数、测量结果的平均值、zui大值、zui小值。按了“统计res”键后，如再次测量，仪器会清除原有的测量值，并存储新的测量值，并重新计算各个统计值。如果在测量中，因探头放置不稳，显示出一个明显错误测量值，可按“清除del”键消除该测量值，以免影响统计结果的准确性。
2）仪器使用完毕后，按“开/关”键，关闭电源。本仪器还有自动关机功能，如不进行任何操作，显示屏上也没有显示，仪器会在大约五分钟后自动关机。
3）本仪器有电源状态指示功能，当电源电压不足时，显示器左上角显示“bat”。此后，仪器虽仍能工作约二小时，但建议用户此时应更换电池。
4）除上述常规的工作模式外，本仪器还有一种连续显示模式。在常规工作模式下,按“︿”或“﹀”键即可进入10连续显示模式，这时显示器右上角出现“free”标志。在该状态下，测量值不储存，每次测量完成后，探头不必提离被测物，测量和显示仍继续进行。这样，通过探头在被测物表面移动，可观察到测量值的连续变化。再次按“︿”或“﹀”键可退回到常规工作式这时“free”标志消失。测量值的变化一般是由于涂镀层厚度不均匀引起的，但被测零件的表面曲率变化或边缘效应以及基体表面粗糙度也会造成测量值的变化。
5）测量微小零件时，建议使用适当的夹具固定被测件（如图3）。标志，并显示测试结果。如果要再测一次，往4上提探头使其离开被测面，然后再按下探头，仪器随后就会显示新的测试结果。如果被测面是弧形的，按图2的方式，使探头下端的三角开叉跨在被测件上，这样便能稳固地放置探头，保证测试结果准确。
8 显示标志及其意义: 标志意义cal 表示仪器工作于校正状态base 应在无涂层的裸基体进行零位校正std 此标志出现时，屏上显示的数值为校正时的标准涂层（或试片）厚度bat 电池电压低，提示更换电池mean 平均值max zui大值按res键前机内储存的系列测min zui小值量值的数理统计结果n 测量次数μm 显示值的单位，1μm = 0.001mm free 表示仪器工作在连续显示模式耦合指示，表示探头正在进行数据采集e 仪器测试数值过大，超出显示范围over 表示显示值超过仪器的显示范围e-1 仪器有故障：探头断线e-2 探头受电磁干扰，无法正常工作129
仪器的日常维护
1）仪器使用完毕后，应放入清洁、干燥的储存箱里，避免冲击和振动。
2）探头应避免敲击和强烈振动并保持清洁，被测物上的污物在测量前必须被清除。
3）仪器长时间不用时，应取出电池，以免电池漏液损坏仪器。
